鍍層測厚儀
儀器介紹：
JT-607C鍍層測厚儀是一款設計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀，C型開槽設計樣品腔，讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。是一款擁有多種準直器（0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm）自動切換的高精密度X射線熒光光譜測厚儀。適合小面積電鍍層、重復鍍層、凹凸不平樣品測試。
儀器特點：
1）搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，可測量各微小的部件
最小測量面積達0. 002mm2
2) 擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm
3) 核心EFP算法，可對多層元素，包括同種元素在不同層都可快·準·穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4) 配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位，多樣品的精準位移和同時檢測
5) 可同時分析23個鍍層，24中元素，測量元素范圍：氯CL (17) ---鈾U （92），涂鍍層分析范圍：氯CL (17)/鋰Li---鈾U (92),涂鍍層最低檢出限：0.005μm
6) 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
7) 標配為兩個準直器任意選擇一種，最小測量面積可達0.002mm2
8) 配有微光聚焦技術，最近測距光斑擴散度小于10%
相關產(chǎn)品：
二次元影像儀 2.5次元影像儀 一鍵式測量儀 玻璃測厚儀 光譜儀
